無損檢測設(shè)備的工作原理

1.首先，無損裝置主要利用X射線的穿透力。X射線波長短，能量大。當(dāng)物質(zhì)照射物體時，只會吸收一小部分X射線，而大多數(shù)X射線的能量會穿過物質(zhì)原子的間隙，顯示出很強(qiáng)的穿透力。

2.無損裝置可以檢測x射線穿透力與物質(zhì)密度的關(guān)系，通過差異吸收可以區(qū)分不同密度的物質(zhì)。這樣，如果檢測到的物體有不同的厚度、形狀變化、不同的X射線吸收和不同的圖像，就會產(chǎn)生不同的黑白圖像。

3.可用于IGBT半導(dǎo)體檢測、BGA芯片檢測、LED燈條檢測、PCB裸板檢測、鋰電池檢測、鋁鑄件無損檢測。

4.簡單地說，使用無干擾的微焦點(diǎn)無損設(shè)備輸出高質(zhì)量的熒光透視圖像，然后將其轉(zhuǎn)換為平板探測器接收的信號。操作軟件的所有功能只用鼠標(biāo)完成，使用方便。標(biāo)準(zhǔn)高性能x光管可檢測到5微米以下的缺陷，部分無損設(shè)備可檢測到2.5微米以下的缺陷，系統(tǒng)可放大1000倍，物體可傾斜。無損設(shè)備可以手動或自動檢測，檢測數(shù)據(jù)可以自動生成。